X 射線熒光光譜 (XRF) 能夠?qū)Χ喾N材料進(jìn)行元素分析，包括固體、液體和疏松粉末。 Zetium 光譜儀專(zhuān)為滿足要求最嚴(yán)苛的流程控制和研發(fā)應(yīng)用需求而設(shè)計(jì)，其高品質(zhì)的設(shè)計(jì)和創(chuàng)新功能居于市場(chǎng)領(lǐng)先地位，可對(duì)從鈹?shù)斤训榷喾N元素進(jìn)行精度范圍從百萬(wàn)分之一以下到百分之一的分析。

憑借我們多年的豐富經(jīng)驗(yàn)以及利用具有廣泛分析功能的 X 射線產(chǎn)品組合取得的成功，Zetium 推動(dòng)材料分析的發(fā)展邁出了革命性的一步。 該平臺(tái)包含了 SumXcore 技術(shù)，它是 WDXRF、EDXRF 和 XRD 的集成。 這種獨(dú)特的功能組合使 Zetium 在多種環(huán)境下?lián)碛歇?dú)一無(wú)二的分析能力、速度和任務(wù)靈活性。